Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy
国家标准 推荐性 即将实施
国家标准《III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、苏州纳维科技有限公司、江苏第三代半导体研究院有限公司、苏州科技大学、北京大学、国家纳米科学中心、北京大学东莞光电研究院、东莞市中镓半导体科技有限公司、ＴＣＬ环鑫半导体（天津）有限公司、苏州大学、山东浪潮华光光电子股份有限公司、北京国基科航第三代半导体检测技术有限公司。
主要起草人曾雄辉 、董晓鸣 、苏旭军 、牛牧童 、王建峰 、徐科 、王晓丹 、徐军 、郭延军 、陈家凡 、王新强 、颜建锋 、敖松泉 、唐明华 、闫宝华 、李艳明 。
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
江苏第三代半导体研究院有限公司
北京大学
北京大学东莞光电研究院
ＴＣＬ环鑫半导体（天津）有限公司
山东浪潮华光光电子股份有限公司
苏州纳维科技有限公司
苏州科技大学
国家纳米科学中心
东莞市中镓半导体科技有限公司
苏州大学
北京国基科航第三代半导体检测技术有限公司
曾雄辉
董晓鸣
王建峰
徐科
郭延军
陈家凡
敖松泉
唐明华
苏旭军
牛牧童
王晓丹
徐军
王新强
颜建锋
闫宝华
李艳明
GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法
GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
YB/T 4676-2018 钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
JB/T 5585-1991 透射电子显微镜分辩力测试方法
JB/T 5584-1991 透射电子显微镜放大率测试方法
20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
实验室环境-1
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实验室环境-3
实验室环境-4
实验室环境-5
实验室环境-6
机构质检技术员-1
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机构质检技术员-5
机构质检技术员-6
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电感耦合等离子体光谱仪
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气相色谱仪
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微析研究所总部位于北京，拥有数家国内检测、检验（监理）、认证、研发机构，1家欧洲（荷兰）检验、检测、认证机构，以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室，超过2000人的技术服务团队。
业务领域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务；致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究，为相关企事业单位提供专业的技术服务。
微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合，为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。微析研究所用精准及时的结果、高质量的创新服务和专业的技术经验，为客户打造独特的分析解决方案和广泛适用的质量保证方法。
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