Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
国家标准 推荐性 现行
国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院。
主要起草人付君 、崔强 、黄雪梅 、乔彦彬 、吴建飞 、方文啸 、朱赛 、亓新 、李旸 、梁吉明 、谢玉章 、张红升 、熊伟杰 、张艳艳 、周昕 、郑益民 、王雪 、熊璞 、张金玲 、麦强 、康志能 、陈梅双 。
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010。
采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。
中国电子技术标准化研究院
安徽中认倍佳科技有限公司
深圳市北测标准技术服务有限公司
天津先进技术研究院
中国家用电器研究院
北京星河亿海科技有限公司
中国信息通信研究院
北京邮电大学
中国汽车工程研究院股份有限公司
厦门海诺达科学仪器有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
工业和信息化部电子第五研究所
重庆邮电大学
浙江诺益科技有限公司
重庆仕益产品质量检测有限责任公司
东莞职业技术学院
付君
崔强
吴建飞
方文啸
李旸
梁吉明
熊伟杰
张艳艳
王雪
熊璞
康志能
陈梅双
黄雪梅
乔彦彬
朱赛
亓新
谢玉章
张红升
周昕
郑益民
张金玲
麦强
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严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
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实验室环境-1
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