Nanotechnologies—Description, measurement and dimensional quality parameters of gratings
国家标准 指导性 现行
国家标准《纳米技术 光栅的描述、测量和尺寸质量参数》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位中国计量科学研究院、北京大学、清华大学、苏州苏大维格科技集团股份有限公司、广纳四维（广东）光电科技有限公司。
主要起草人李伟 、李适 、朱振东 、李群庆 、陈林森 、李晓军 、高思田 、李琪 、施玉书 、黄鹭 、史瑞 、乔文 、华鉴瑜 。
本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62622:2012。
采标中文名称:纳米技术 人造光栅的描述，测量和尺寸质量参数。
中国计量科学研究院
清华大学
广纳四维（广东）光电科技有限公司
北京大学
苏州苏大维格科技集团股份有限公司
李伟
李适
陈林森
李晓军
施玉书
黄鹭
华鉴瑜
朱振东
李群庆
高思田
李琪
史瑞
乔文
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微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
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独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
实验室环境-1
实验室环境-2
实验室环境-3
实验室环境-4
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实验室环境-6
机构质检技术员-1
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机构质检技术员-5
机构质检技术员-6
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