Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34:Power cycling
国家标准 推荐性 现行
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人张艳杰 、崔万国 、裴选 。
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-34:2010。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环。
中国电子科技集团公司第十三研究所
张艳杰
崔万国
裴选
20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
20231752-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度
20193135-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第7部分：内部水汽测量和其他残余气体分析
20201542-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
实验室环境-1
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实验室环境-3
实验室环境-4
实验室环境-5
实验室环境-6
机构质检技术员-1
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机构质检技术员-5
机构质检技术员-6
步入式恒温恒湿试验箱
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高效液相色谱仪
流式细胞仪
气相色谱仪
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