Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
国家标准 推荐性 即将实施
国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。
主要起草人郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。
苏州纳微科技有限公司
苏州大学
中国检验检疫科学研究院
苏州市计量测试院
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
郭清华
朱建荣
方丹
姜江
王震
姚建林
袁亚仙
席广成
卢荻
GB/T 36063-2018 纳米技术 用于拉曼光谱校准的标准拉曼频移曲线
20212960-T-491 纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法
GB/T 43341-2023 纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量 拉曼光谱法
GB/T 40069-2021 纳米技术 石墨烯相关二维材料的层数测量 拉曼光谱法
GB/T 37984-2019 纳米技术 用于拉曼光谱校准的频移校正值
20242344-T-334 珠宝玉石鉴定 拉曼光谱法
GB/T 33252-2016 纳米技术 激光共聚焦显微拉曼光谱仪性能测试
GB/T 20184-2021 拉曼光纤放大器
SL 392-2007 固相萃取气相色谱/质谱分析法(GC/MS)测定水中半挥发性有机污染物
GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
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